DB-FIB (پرتو یونی متمرکز پرتو دوگانه)

DB-FIB (پرتو یونی متمرکز پرتو دوگانه)
جزئیات:
GRGTEST Metrology خدمات حرفه ای تجزیه و تحلیل پرتو یونی متمرکز با پرتو دوگانه (DB-FIB) را ارائه می دهد. خدمات آزمایشی رایج شامل بخش‌های نمونه TEM برای فرآیندهای پیشرفته (14 نانومتر و پایین‌تر)، تجزیه و تحلیل نقطه اتصال FA (شامل تجزیه و تحلیل عیب مقطعی نقطه‌های داغ با روش‌های مختلف مانند OBIRCH) و ماشین‌کاری برش مقطع ثابت متعارف-.
ارسال درخواست
دانلود
شرح
پارامترهای فنی

محتوای خدمات / محدوده و موارد آزمایشی

 

الف نمونه‌های بخش نازک-TEM

یکی از کاربردهای مهم میکروسکوپ پرتو یونی متمرکز با پرتو دوگانه (DB-FIB) تهیه نمونه‌های بسیار نازک برای میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) است. GRGTEST Metrology می تواند موارد آزمایش زیر را برای این برنامه ارائه دهد:

 

محتوای خدمات

مورد آزمایشی

واحد نقل قول

نوع نمونه

آماده سازی نمونه مبتنی بر سیلیکون (Si) XS (مقطع-)

هر (ea)

تراشه های فرآیند پیشرفته در 14 نانومتر و پایین تر. تراشه های 28 نانومتری، 40 نانومتری، 55 نانومتری و بالاتر

نمونه PV مبتنی بر سیلیکون (Si) (Plan-نمایش) آماده سازی نمونه

هر (ea)

تراشه های فرآیند پیشرفته در 14 نانومتر و پایین تر. تراشه های 28 نانومتری، 40 نانومتری، 55 نانومتری و بالاتر

آماده‌سازی نمونه غیر{0}}نمونه‌ای مبتنی بر سیلیکون XS (مقطع-)

ساعت (ساعت)

نمونه‌های غیر مبتنی بر سیلیکون، از جمله آرسنید گالیم (GaAs)، نیترید گالیم (GaN)، کاربید سیلیکون (SiC) و غیره.

آماده سازی نمونه PV غیر{0}}بر اساس سیلیکون (Plan-نمایش)

ساعت (ساعت)

نمونه‌های غیر مبتنی بر سیلیکون، از جمله آرسنید گالیم (GaAs)، نیترید گالیم (GaN)، کاربید سیلیکون (SiC) و غیره.

آماده سازی نمونه ویژه

ساعت (ساعت)

نمونه های مختلف مواد جدید، از جمله مواد باتری لیتیوم، مواد الکترود گرافن و غیره.

 

ب تجزیه و تحلیل مقطعی FA Hotspot-

مورد آزمایشی

واحد نقل قول

نوع نمونه

تجزیه و تحلیل مقطعی{0}}هت‌اس‌پات FA (شامل نقاط مهم ثبت‌شده با روش‌هایی مانند OBIRCH؛ یک-تست یک مرحله‌ای از جمله ثبت نقطه اتصال در دسترس است)

ساعت (ساعت)

نمونه های نیمه هادی: ویفر، آی سی، قطعات، MEMS، لیزر و غیره.

 

ج پردازش مقطع متعارف-

مورد آزمایشی

واحد نقل قول

نوع نمونه

پردازش مقطع هدفمند-

ساعت (ساعت)

نمونه های نیمه هادی: ویفر، آی سی، قطعات، PCB، MEMS، لیزر و غیره؛ سایر نمونه های نیمه هادی غیر-

پردازش غیر هدفمند مقطعی-

ساعت (ساعت)

نمونه های نیمه هادی: ویفر، آی سی، قطعات، PCB، MEMS، لیزر و غیره؛ سایر نمونه های نیمه هادی غیر-

 

چرخه تست

 

چرخه استاندارد تست 3 روز تقویمی است. برای شرایط خاص، می‌توانیم مظنه‌هایی را با زمان‌های پاسخ متفاوت 48 ساعت، 24 ساعت و 12 ساعت ارائه کنیم.

 

مزایای ما

 

اعضای تیم GRGTEST Measurement دارای تجربه مرتبط در فرآیندهای تولید ویفر پیشرفته هستند. ما به رویکرد مشتری{1}}محور پایبند هستیم و متعهد به ارائه خدمات دقیق، به موقع و جامع هستیم.

GRGTEST Measurement بزرگترین شرکت آزمایشی-شخص ثالث- دولتی است که در چین فهرست شده است. پلتفرم ما دارای مکانیزم مدیریت صحیح و قابلیت‌های کامل{3}}آزمایش و تجزیه و تحلیل فرآیند است که به ما امکان می‌دهد تحلیل‌های به موقع و معتبر برای پروژه‌های کامل را به مشتریان ارائه دهیم.

 

نمونه مورد نیاز

 

بی آب؛ نمونه ها نباید حاوی اجزای مایع باشند. پایدار تحت تابش پرتو یونی (برخی از نمونه های آلی قابل تشخیص نیستند). ابعاد معمولاً از 10 * 10 * 5 سانتی متر (طول * عرض * ارتفاع) تجاوز نمی کند.

 

 

تگ های محبوب: ارائه‌دهنده خدمات db-fib (دو-پرتو یون متمرکز)

ارسال درخواست