دستگاه های DDR ، یعنی حافظه دو برابر همزمان حافظه دسترسی تصادفی پویا ، یک مؤلفه کلیدی ضروری در دستگاه های الکترونیکی مدرن هستند. دستگاه های DDR با سرعت زیاد ، ظرفیت زیاد و لوازم الکترونیکی مصرف کننده به طور گسترده در رایانه ها ، سرورها ، تجهیزات ارتباطی و مصرف کم مصرف استفاده می شوند. با توسعه سریع علم و فناوری ، دستگاه های DDR دائماً به روز می شوند و الزامات عملکرد نیز به طور مداوم بهبود می یابد. تست پارامتر برقی آن به یک پیوند کلیدی برای اطمینان از کیفیت محصول و عملکرد پایدار تبدیل شده است.
پارامترهای عملکرد الکتریکی ، به عنوان توصیف اصلی ویژگی های رفتار دستگاه های DDR در مدار ، عملکرد یکپارچه دستگاه را در حالت های مختلف کار منعکس می کند. پارامترهای عملکرد الکتریکی دستگاه های DDR عمدتا شامل عناصر کلیدی مانند جریان کار ، فرکانس ساعت ، ساعت ، نرخ انتقال داده و زمان تأخیر. این پارامترها نقش تعیین کننده ای در عملکرد دستگاه های DDR دارند.
به طور خاص ، اندازه جریان کار به طور مستقیم با محیط کاربرد و میزان مصرف برق دستگاه DDR مرتبط است. فرکانس ساعت و نرخ انتقال داده به طور مشترک ظرفیت پردازش داده دستگاه DDR را تعیین می کند. و زمان تأخیر عاملی است که بر سرعت پاسخ و عملکرد کلی سیستم تأثیر می گذارد.
نکته قابل توجه ، در پارامترهای عملکرد الکتریکی و شرایط کار تفاوت معنی داری نشان داد. برای به دست آوردن بینش در مورد این اختلافات ، می توانیم به کتابچه راهنمای دستگاه مربوطه مراجعه کنیم. به عنوان مثال ، شکل زیر صفحه عنوان مشخصات دستگاه DDR را نشان می دهد. پارامترهای دقیق عملکرد الکتریکی و شرایط کار را می توان از کتاب مشخصات بدست آورد. این اطلاعات برای انتخاب صحیح و کاربرد دستگاههای DDR بسیار مهم است.
تجهیزات اصلی تست
V 93000- cth
ویژگی های تجهیزات:
1. V 93000- cth یک سیستم تست اتوماسیون مدار یکپارچه پیشرفته پیشرفته است ، که برای آزمایش تراشه منطق دیجیتال ، تراشه سیگنال ترکیبی ، تراشه سیستم SOC و سایر محصولات طراحی شده است ، با طیف گسترده ای از تست ها بشر
2. اتخاذ پلت فرم نرم افزاری پیشرفته Smartest را برای ارائه کاربران برنامه نویسی و آزمایش قدرتمند در اختیار کاربران قرار دهید و توسعه برنامه های آزمایشی را سریع تر و کارآمدتر می کند.
3. پلتفرم از نظر تعداد کانال های تست دیجیتال ، V {1}} cth دارای مقیاس پذیری عالی است که می تواند از 128 کانال به 2048 کانال (با 128 کانال به عنوان حداقل واحد گسترش) گسترش یابد.
4. سیستم از انواع سرعت تست پشتیبانی می کند ، و کارت تطبیق PS 9G Board می تواند میزان آزمایش تا 9 گیگابیت در ثانیه را فراهم کند. علاوه بر این ، این دستگاه همچنین از انواع سرعت تست اختلاط کارت کانال دیجیتال پشتیبانی می کند ، به طوری که نیازهای تست های مختلف را برآورده می کند.
5. راندمان آزمون کارآمد: V {1}} CTH سرعت تست عالی دارد. در مقایسه با تجهیزات تست سنتی ، می تواند وظایف آزمایش را سریعتر انجام دهد ، در نتیجه بازده آزمایش را بهبود می بخشد.
مورد آزمایشی
در میان پارامترهای مختلف الکتریکی DDR ، پارامترهای مهم DC شامل IDD 0 ، IDD 1 (عملکرد یک جریان بانکی) ، IDD2 (جریان Precharge) ، IDD3 (جریان فعال) ، IDD4 (کاربردی پشت سر هم نوشتن/خواندن جریان فعلی است. ) ، IDD5 ، IDD6 (جریان تازه) ، IDD 7 (بانک عملیاتی Interleave جریان خواندن جریان) و IDD 8 (تنظیم مجدد جریان) ، و غیره ، که از این تعداد کوچکترین جریان عملیاتی معمولاً کمتر از ده میلی آمپر است ، حداکثر جریان کار می تواند به یک چند صد میلی لیتر.
پارامترهای اصلی AC TCK (ساعت سیستم) ، TAC (زمان دسترسی به خروجی DQ به / از CK / CK #) ، TDQSCK (DQS / DQS #Rising to / از افزایش CK / CK #) و غیره ، ساعت سیستم است. معمولاً پارامتر نانو ثانیه ، و پارامترهای اصلی مانند TDQSCK پارامتر تأخیر Picosecond هستند.
گروه زیر نمودار شماتیک آزمایش Grgtest یک دستگاه DDR خاص است. صفحه تست مناسب و فیکسچر تست با پلت فرم ATE پیکربندی شده مناسب آزمایش می شوند.
در سمت چپ ، داده های آزمون پارامترهای کلیدی یک دستگاه DDR توسط V 93000- cth تکمیل می شود. در سمت راست لیست لیست پارامترهای مشخصه الکتریکی در مشخصات شرکت همان مدل قرار دارد.
Tقابلیت EST
Grgtest فناوری و تجهیزات تست پیشرفته را در داخل و خارج از کشور معرفی می کند و قابلیت تست و توسعه پارامترهای کلیدی مربوط به دستگاه های DDR را ایجاد می کند. علاوه بر این ، Grgtest همچنین متعهد به توسعه دستگاه های متنوع مانند تراشه منطق دیجیتال ، تراشه سیگنال هیبریدی و SOC SOC CHIP است که ضمانت تأیید شدیدی برای توسعه متنوع صنعت تراشه چین و اسکورت های صاف محصولات تراشه را ارائه می دهد.